Bruker webinar: Phân tích bề mặt chuyên sâu: Làm thế nào sử dụng FT-IR cho phân tích lớp phủ, xử lý bề mặt và làm sạch kỹ thuật
30/03/2021Cho dù bạn nhìn nơi đâu, những bề mặt chức năng luôn là một phần cuộc sống của bạn. Cho dù là việc cạo râu buổi sáng, phần sơn trên xe hơi hoặc các lớp phủ chống dấu vân tay trên điện thoại – những bề mặt xử lý đặc biệt đóng vai trò trung tâm cho hầu hết mọi thứ!
Trong webinar này, chuyên gia phân tích bề mặt Eric Klein từ Bruker sẽ trình bày “Phân tích bề mặt chuyên sâu: Làm thế nào sử dụng FT-IR cho phân tích lớp phủ, xử lý bề mặt và làm sạch kỹ thuật” thông qua các ví dụ cụ thể của phân tích bề mặt công nghiệp. Chúng tôi sẽ chỉ ra từng bước phân tích và xử lý sự cố của:
- Chất lượng các lưỡi dao đã được xử lý cho người tiêu dùng
- Các tấm kim loại được sơn từ các khu vực tự động hóa
- Các tấm kim loại bị nhiễm bẩn trước khi tinh luyện (refinement)
- Các thiết bị và dụng cụ phủ DLC (diamond like carbon)
- Kiểm tra việc làm sạch các mối hàn và mối nối
Bạn sẽ học về:
- Làm sáng tỏ những nguyên nhân hư hại bề mặt
- Kỹ thuật nào nên được sử dụng cho các dạng mẫu nhất định
- Quy trình thí nghiệm phù hợp sử dụng kính hiển vi FT-IR và imaging
- Giá trị của FT-IR trong xử lý sự cố quá trình và QC công nghiệp
Nội dung
- Phân tích bề mặt và xử lý sự cố
- Kính hiển vi hồng ngoại FT-IR và Imaging
- Kỹ thuật xử lý mẫu bằng FT-IR
Nên tham dự:
- Các chuyên gia QA/QC mảng tự động hóa
- Các chuyên gia về lớp phủ và bề mặt
- Các nhà sản xuất công nghiệp và nhà nghiên cứu vật liệu
- Các phòng thí nghiệm phân tích dịch vụ
Diễn giả:
Eric Klein bắt đầu với nền tảng về kỹ thuật nhưng nhanh chóng tìm ra con đường của mình vào mảng quang học và khoa học phân tích. Anh là chuyên viên ứng dụng cho kính hiển vi và phân tích bề mặt và kể từ đó dành tâm trí cho sự phát triển kính hiển vi hồng ngoại LUMOS II FT-IR, kính hiển vi FT-IR cao cấp nhất.
Quý khách vui lòng chọn một trong 2 thời gian phù hợp bên dưới:
Session 1: Thứ 3, ngày 11/5/2021, 14:00 Hanoi (GMT+7)
Session 2: Thứ 3, ngày 11/5/2021, 21:00 Hanoi (GMT+7)